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PRODUCTS CNTER手動平臺超景深3D顯微鏡3D超景深顯微系統輕松解決以上不足,突破顯微鏡的光學固有限制。可以在10秒之內得到樣品的三維立體圖像??梢暂p松的對樣品不同高度進行優質成 像,得到平面優質圖片,繼而構建3D模型,并通過智能測量模式,準確測量三維空間尺寸。在得到優質平面圖像/3D圖像的同時,本系統還提供共焦點云的全自由度模型三維觀察使得用戶能夠從任意角度觀察樣品,系統通過一體化的設計,可以實現高速自動顯微
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CCD: 采用HP-CCD圖像傳感器核心,1/2CCD(SONY)保證了和目鏡觀察同步放大倍率,采用D65光源自動校正,對于非標準白光光源自動背景補償。圖像色彩真實還原,消除了傳統數字圖像偏黃背景現象;
*HDR: 動態HDR功能確保成像過程中無明顯陰影、曝光過度噪點缺陷等,市場整體均勻確保3d成像;
電路:專業色彩還原DSP處理電路, 色彩真實還原,自動基色補償調整;
HDMI:HDMI實時高速傳輸,CCD自帶測量技術;
光學鏡組: 放大倍率和現有標準目鏡(10X)吻合.適應無限遠共軛光學系統的高檔研究型顯微系統和常規有限遠光學系統,視野寬,圖像無畸變,視場均勻度高。采用最新設計的多焦點會聚光學CFS系統,成像質量大幅提升的同時,減小了灰塵雜質等對成像質量的影響。即使在使用中不小心灰塵污染了光學鏡片表面,也不會影響成像效果;
外殼: 外殼全金屬電磁屏蔽,符合標準,支持熱插拔功能。
手動平臺超景深3D顯微鏡技術指標
傳 感 器:24BIT真彩色CCD,日光型/燈光型,D65光源校正
光學系統:CFS多焦點會聚光學系統
*輸出象素:1920X1080/4325X2430
水平分辨率:>2000 TV lines
傳感器類型:HP CCD(線掃描)
數據類型:真彩色24Bit R×G×B×8
靶面尺寸:1/2英寸
掃描方式:逐行掃描
光譜響應:400nm~1000nm(支持熒光顯微系統)
靈 敏 度:1.0V/lux-sec@550nm
掃描方式:逐行掃描
白 平 衡:高速自動跟蹤+手動
曝光時間: 自動或手動可調(38毫秒-5000毫秒)
色彩方式: 黑白/彩色
對 比 度: 手動或自動可調
伽 馬 值: 手動或自動可調
接口和標尺:
標準C-MOUNT 接口內置,可實現任何常規顯微鏡的連接,0.01mm校核標尺實現顯微鏡系統的精確定量
光學鏡組一體式同軸鏡體以及PZ-WN-YH400L低倍鏡頭
光學變倍比:12:1
變倍方式: 連續變倍,工作距離保持恒定
工作距離: WD 80mm(工作距離恒定)
放大倍數: 20X(MIN)---240X(MAX),連續變倍
視野范圍: 12mmx6.5mm-------1mmX0.6mm
變倍方式: 電動變倍,智能識別顯示放大倍數
同軸光路: 已經安裝于主體光路中
照明方式: 支持環型照明/斜入射照明/同軸光照明
PZ-WN-YH400C一體式同軸高倍物鏡組,快速更換型物鏡
型號 | 工作距離(WD) | 物鏡技術 | 放大倍數 (光學) | 數值孔徑 | 分辨率 |
Plan Apo-5X | *34mm | APO復消色差 | 125X-1500X | NA.0.14 | 2u |
Plan Apo-10X | *34mm | APO復消色差 | 250X-3000X | NA.0.28 | 1u |
Plan Apo-20X | *20mm | APO復消色差 | 500X-6000X | NA.0.42 | 0.7u |
Plan Apo-50X | *7.5mm | APO復消色差 | 1180X-8120X | NA.0.55 | 0.5 u |
多功能照明系統PZ-WN-ILLUMINATION
包括以下基本照明:
低倍四分區照明器(程控照明強度與角度)
低倍倍環形照明器(無影照明)
高倍環形照明器(無影照明)
高倍同軸照明以及專用LED光源(高倍)
多角度萬能精密支座 PZ-WN-STAND 包含以下部件:
X-Y-Z三維移動平臺,實現XYZ三向精密運動X/Y/Z平臺,手動二維調節平臺,XY行程為70mmx50mm ;可拆卸式顯微鏡固定架,平臺可旋轉。
Z向電動精密工作臺(位移傳感器內置),Z向行程100mm,分辨率0.1um,實際精度為1um; 粗微調顯微調焦機構,可擺動支架可0-90°偏轉,實現顯微鏡傾斜觀察;
圖像測量分析處理系統PZ-WN-M
預覽:25%,33%,50%,100%實時動態預覽.動態預覽過程支持實時參數調整
白平衡:設置多種背景白平衡校正模式,對圖像實現白平衡(D65光源矯正)。
采集:一鍵采集,圖像格式可選擇:JPEG/BMP/PNG/TIFF(出版專用)/GIF/PCX/TGA/SFT
圖像均衡器:可以使視場圖像的更加平整,均勻。
定時拍攝:定時采集最小間隔時間為2秒
測量:靜態圖像的兩點間距、平行線距、角度、弧度、圓半徑、任意多邊形的面積、周長等多種測量方式,在40X的物鏡下最高測量精度達到0.5um,支持動態簡易測量
自動計數: 通過顯微圖像中樣品的灰度等級、面積大小、邊界周長的設定,可實現精確統計同類樣品的個數、面積和周長
比 例 尺:通過校核顯微鏡和成像裝置,在圖片中任意標定比例尺和日期,實現顯微鏡圖片的數字化管理和精確量化.
*圖像優化功能: 高斯、高高斯、濾波、窗寬窗位、分割、二值化、浮雕、3-D、彌撒光點測量、傅立葉變換、自動色階、直方圖均衡等
自由度超景深模型構建系統 PZ-WN-H3
超景深合成:實現多張平面圖像融合(采集多張不同高度上樣品圖片,將每張圖片上清晰部分提取出來,融合成一張全清晰的平面圖像)
校正: 采用位移校準和邊緣修正技術,可以消除圖像邊緣鋸齒狀。即使是在體視顯微鏡(解剖鏡)上,一樣可以得到清晰圖片
3D全自由度模型構建:在全清晰平面圖像的基礎上,構建全自由度超景深模型,可以有效有效分辨樣品真實的立體信息和高度信息,從多個角度自由觀察樣品。觀察過程中,實現以下功能:
動態/靜態可選、動態圖像縮放、觀察角度設定、
手動/自動控制可選、坐標系建立、空間XYZ軸建立
空間輔助框建立
*3D測量:
平面二維基本測量(點/線/角度/平行線/多邊形)
3維測量:空間高度測量、面與面夾角、線與面角度、線與線角度、空間半徑、高度均值測量、智能匹配測量、自動高低位置選取、空間平面矯正、3D顏色高度信息圖、偽彩色模式顯示